Fractal dimension and altimeter data
- Alonso, J.
- Arias, M.
- Villares, P.
- Catalan, M.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
ISSN: 0277-786X
Año de publicación: 2005
Volumen: 5977
Tipo: Aportación congreso