Control of the alumina microstructure to reduce gate leaks in diamond MOSFETs

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Revista:
Nanomaterials

ISSN: 2079-4991

Año de publicación: 2018

Volumen: 8

Número: 8

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/NANO8080584 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor