Impact of Nonhomoepitaxial Defects in Depleted Diamond MOS Capacitors

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Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 2018

Volumen: 65

Número: 5

Páginas: 1830-1837

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TED.2018.2813084 GOOGLE SCHOLAR
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