Electro-optical characterisation for the control of silicon nanocrystals embedded in SiNx:H films

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Zeitschrift:
Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics

ISSN: 1862-6351

Datum der Publikation: 2007

Ausgabe: 4

Nummer: 4

Seiten: 1554-1559

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1002/PSSC.200674142 GOOGLE SCHOLAR