Electro-optical characterisation for the control of silicon nanocrystals embedded in SiNx:H films
- Lelièvre, J.-F.
- Rodriguez, H.
- Fourmond, E.
- Quoizola, S.
- Lipinski, M.
- Araujo, D.
- Bremond, G.
- Lemiti, M.
ISSN: 1862-6351
Datum der Publikation: 2007
Ausgabe: 4
Nummer: 4
Seiten: 1554-1559
Art: Konferenz-Beitrag