Planar defects, voids and their relationship in 3C-SiC layers
- Méndez, D.
- Aouni, A.
- Araújo, D.
- Ferro, G.
- Monteil, Y.
- Bustarret, E.
ISSN: 1662-9752, 0255-5476
ISBN: 9780878499632
Año de publicación: 2005
Volumen: 483-485
Páginas: 189-192
Tipo: Aportación congreso