Synchrotron X-ray topography of bismuth silicon oxide crystals

  1. Martínez-López, J.
  2. González-Mañas, M.
  3. Caballero, M.A.
  4. Diéguez, E.
  5. Capelle, B.
Revista:
Journal of Crystal Growth

ISSN: 0022-0248

Año de publicación: 1996

Volumen: 166

Número: 1-4

Páginas: 325-328

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0022-0248(96)00107-8 GOOGLE SCHOLAR