Influence of substrate absorption on accuracy of determination of refractive index and thickness of uniform thin chalcogenide Cu 1[As2(S0.5Se0.5)3] 99 film

  1. Štrbac, D.D.
  2. Lukić, S.R.
  3. Petrović, D.M.
  4. Gonzalez-Leal, J.M.
  5. Srinivasan, A.
  6. Štrbac, G.R.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Año de publicación: 2010

Volumen: 518

Número: 20

Páginas: 5679-5682

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/J.TSF.2009.10.025 GOOGLE SCHOLAR
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