A new method for the optical characterization of inhomogeneous thin films based only on spectroscopic reflection measurements

  1. Ruiz-Pérez, J.J.
  2. Márquez, E.
  3. González-Leal, J.M.
  4. Jiménez-Garay, D.
  5. Minkov, D.
Colección de libros:
Materials Science Forum

ISSN: 1662-9752,  0255-5476

Año de publicación: 1998

Volumen: 287-288

Páginas: 363-366

Tipo: Artículo

DOI: 10.4028/WWW.SCIENTIFIC.NET/MSF.287-288.363 GOOGLE SCHOLAR
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