Optical characterization of thermally evaporated thin films of As40S40Se20 chalcogenide glass by reflectance measurements

  1. Márquez, E.
  2. González-Leal, J.M.
  3. Prieto-Alcón, R.
  4. Vlcek, M.
  5. Stronski, A.
  6. Wagner, T.
  7. Minkov, D.
Revista:
Applied Physics A: Materials Science and Processing

ISSN: 0947-8396

Año de publicación: 1998

Volumen: 67

Número: 3

Páginas: 371-378

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S003390050787 GOOGLE SCHOLAR