Boundary-scan interconnect test vector generation during VHDL synthesis

  1. Olozábal, Á.Q.
  2. Vela, D.G.
  3. De Los Ángeles Cifredo Chacón, M.
  4. Rodríguez, J.M.G.
  5. Villar, J.M.B.
Actas:
EUROCON 2005 - The International Conference on Computer as a Tool

ISBN: 9781424400492

Año de publicación: 2005

Volumen: I

Páginas: 495-498

Tipo: Aportación congreso

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus