Atomic-column scanning transmission electron microscopy analysis of misfit dislocations in GaSb/GaAs quantum dots

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Revista:
Journal of Materials Science

ISSN: 1573-4803,  0022-2461

Año de publicación: 2016

Volumen: 51

Número: 16

Páginas: 7691-7698

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S10853-016-0051-0 GOOGLE SCHOLAR
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