Atom probe tomography analysis of InAlGaAs capped InAs/GaAs stacked quantum dots with variable barrier layer thickness

  1. Hernández-Saz, J.
  2. Herrera, M.
  3. Molina, S.I.
  4. Stanley, C.R.
  5. Duguay, S.
Revista:
Acta Materialia

ISSN: 1359-6454

Año de publicación: 2016

Volumen: 103

Páginas: 651-657

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.ACTAMAT.2015.10.048 GOOGLE SCHOLAR
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