HAADF-STEM analysis of the composition distribution in InAlAsSb/InGaAs/InP layers for solar cells applications

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Año de publicación: 2016

Volumen: 22

Páginas: 30-31

Tipo: Nota

DOI: 10.1017/S1431927616000349 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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