Dual-axis STEM tomography of Dy-doped YBa2Cu3O7-x coated superconductors

  1. Ortalan, V.
  2. Herrera, M.
  3. Morgan, D.G.
  4. Rupich, M.W.
  5. Browning, N.D.
Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Datum der Publikation: 2008

Ausgabe: 14

Nummer: SUPPL. 2

Seiten: 340-341

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1017/S1431927608085930 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus