Transmission electron microscopy study of Si δ-doped GaAs/AlGaAs/InGaAs/GaAs pseudomorphic high electron mobility transistor structures

  1. Molina, S.I.
  2. Walther, T.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Ano de publicación: 1997

Volume: 307

Número: 1-2

Páxinas: 6-9

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/S0040-6090(97)00245-9 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus