Voltammetry of surface redox processes perturbed by a father-son reaction
- Calvente, J.J.
- Gil, M.L.
- Sánchez, M.D.
- Andreu, R.
- De Pablos, F.
ISSN: 0013-4686
Año de publicación: 2000
Volumen: 45
Número: 19
Páginas: 3087-3097
Tipo: Artículo
ISSN: 0013-4686
Año de publicación: 2000
Volumen: 45
Número: 19
Páginas: 3087-3097
Tipo: Artículo