Defect evolution and interplay in n-type InN
- Rauch, C.
- Tuomisto, F.
- Vilalta-Clemente, A.
- Lacroix, B.
- Ruterana, P.
- Kraeusel, S.
- Hourahine, B.
- Schaff, W.J.
Aldizkaria:
Applied Physics Letters
ISSN: 0003-6951
Argitalpen urtea: 2012
Alea: 100
Zenbakia: 9
Mota: Artikulua