Damage formation in GaN under medium energy range implantation of rare earth ions: A combined TEM, XRD and RBS/C investigation

  1. Lacroix, B.
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  7. Alves, E.
Actas:
Materials Research Society Symposium Proceedings

ISSN: 0272-9172

ISBN: 9781605113197

Año de publicación: 2012

Volumen: 1342

Páginas: 27-32

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1557/OPL.2011.995 GOOGLE SCHOLAR
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