Damage formation in GaN under medium energy range implantation of rare earth ions: A combined TEM, XRD and RBS/C investigation
- Lacroix, B.
- Leclerc, S.
- Ruterana, P.
- Declémy, A.
- Miranda, S.M.C.
- Lorenz, K.
- Alves, E.
ISSN: 0272-9172
ISBN: 9781605113197
Año de publicación: 2012
Volumen: 1342
Páginas: 27-32
Tipo: Aportación congreso