IoT-TEG 4.0: A New Approach 4.0 for Test Event Generation

  1. Velez-Estevez, A.
  2. Gutierrez-Madronal, L.
  3. Medina-Bulo, I.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Reliability

ISSN: 1558-1721,  0018-9529

Datum der Publikation: 2022

Ausgabe: 71

Nummer: 3

Seiten: 1368-1380

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TR.2021.3087781 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor

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