IoT-TEG 4.0: A New Approach 4.0 for Test Event Generation

  1. Velez-Estevez, A.
  2. Gutierrez-Madronal, L.
  3. Medina-Bulo, I.
Revue:
IEEE Transactions on Reliability

ISSN: 1558-1721,  0018-9529

Année de publication: 2022

Volumen: 71

Número: 3

Pages: 1368-1380

Type: Article

DOI: 10.1109/TR.2021.3087781 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccès ouvert editor

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