High- and low-energy x-ray photoelectron techniques for compositional depth profiles: Destructive versus non-destructive methods

  1. Benito, N.
  2. Galindo, R.E.
  3. Rubio-Zuazo, J.
  4. Castro, G.R.
  5. Palacio, C.
Revista:
Journal of Physics D: Applied Physics

ISSN: 0022-3727,  1361-6463

Año de publicación: 2013

Volumen: 46

Número: 6

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0022-3727/46/6/065310 GOOGLE SCHOLAR
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