Positron beam analysis of structurally ordered porosity in mesoporous silica thin films

  1. Van Veen, A.
  2. Galindo, R.E.
  3. Schut, H.
  4. Eijt, S.W.H.
  5. Falub, C.V.
  6. Balkenende, A.R.
  7. De Theije, F.K.
Revista:
Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology

ISSN: 0921-5107

Any de publicació: 2003

Volum: 102

Número: 1-3

Pàgines: 2-7

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1016/S0921-5107(02)00752-3 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus