Electrical characterization of Si-donor-related shallow and deep states in InGaAlP alloys grown by metalorganic chemical vapor deposition

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Revista:
Journal of Crystal Growth

ISSN: 0022-0248

Año de publicación: 1991

Volumen: 115

Número: 1-4

Páginas: 498-503

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0022-0248(91)90793-5 GOOGLE SCHOLAR
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