STEM Tools for Semiconductor Characterization: Beyond High-Resolution Imaging

  1. de la Mata, M.
  2. Molina, S.I.
Aldizkaria:
Nanomaterials

ISSN: 2079-4991

Argitalpen urtea: 2022

Alea: 12

Zenbakia: 3

Mota: Berrikuspena

DOI: 10.3390/NANO12030337 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor
Datuen iturria: Scopus