Structural characterisation of AlGaN/AlN/Si(111) heterostructures by transmission electron microscopy

  1. Sanchez, AM
  2. Molina, SI
  3. Pacheco, FJ
  4. Garcia, R
  5. Sanchez-Garcia, MA
  6. Calleja, E
Colección de libros:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1999, PROCEEDINGS
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Beanland, R (coord.)

ISSN: 0951-3248

ISBN: 0-7503-0650-5

Año de publicación: 1999

Páginas: 397-400

Congreso: Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS