Structural characterization of GaN/AlN/Si (111)

  1. Molina, SI
  2. Sanchez, AM
  3. Sanchez-Garcia, MA
  4. Calleja, E
  5. Calle, F
  6. Garcia, R
Llibre:
ELECTRON MICROSCOPY 1998, VOL 3
  1. Benavides, HAC (coord.)
  2. Yacaman, MJ (coord.)

ISBN: 0-7503-0566-5

Any de publicació: 1998

Pàgines: 389-390

Congrés: 14th International Congress on Electron Microscopy

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS