TEM study of dislocation distribution in linearly-graded composition InGaAs layers on GaAs(001)

PACHECO, FJ
MOLINA, SI
ARAUJO, D
SACEDON, A
GARCIA, R

Libro:

ELECTRON MICROSCOPY 1994, VOLS 2A AND 2B

Jouffrey, B (coord.)
Colliex, C (coord.)

ISBN: 2-86883-226-1

Año de publicación: 1994

Páginas: 609-610

Congreso: 13th International Congress on Electron Microscopy

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS