Characterization of InGaAs (N)/GaAsN multi-quantum wells using transmission electron microscopy

  1. Gutierrez, M
  2. Herrera, M
  3. Ross, I
  4. Gonzalez, D
  5. Hopkinson, M
  6. Garcia, R
Col·lecció de llibres:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 2003
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Midgley, PA (coord.)

ISSN: 0951-3248

ISBN: 0-7503-0979-2

Any de publicació: 2003

Pàgines: 143-146

Congrés: Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS