Sistemas Inteligentes de Computación
TIC145
Lawrence Berkeley National Laboratory
Berkeley, Estados UnidosPublicacions en col·laboració amb investigadors/es de Lawrence Berkeley National Laboratory (2)
2009
-
Atomic scale high-angle annular dark field STEM analysis of the N configuration in dilute nitrides of GaAs
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics, Vol. 80, Núm. 12
2008
-
High resolution HAADF-STEM imaging analysis of N related defects in GaNAs quantum wells
Microscopy and Microanalysis