High resolution HAADF-STEM imaging analysis of N related defects in GaNAs quantum wells

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Año de publicación: 2008

Volumen: 14

Número: SUPPL. 2

Páginas: 318-319

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1017/S1431927608082329 GOOGLE SCHOLAR
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