Sistemas Inteligentes de Computación
TIC145
Universidad Nacional Autónoma de México
Ciudad de México, MéxicoUniversidad Nacional Autónoma de México-ko ikertzaileekin lankidetzan egindako argitalpenak (1)
2014
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Analysis of electron beam damage of exfoliated MoS2 sheets and quantitative HAADF-STEM imaging
Ultramicroscopy, Vol. 146, pp. 33-38