Projecte d'investigació
DPI2003-04345
Texturado de obleas de silicio y caracterización de la capa antirreflectante obtenida por serigrafía en células fotovoltaicas.
date_range
Duració del 01 de de desembre de 2003 al 30 de de novembre de 2006
(36 mesos)
Va finalitzar
Convocatòria:
Programa General. Plan Nacional I+D+i