Proxecto de investigación
DPI2003-04345
Texturado de obleas de silicio y caracterización de la capa antirreflectante obtenida por serigrafía en células fotovoltaicas.
date_range
Duración do 01 de decembro de 2003 ao 30 de novembro de 2006
(36 meses)
Rematou
Convocatoria:
Programa General. Plan Nacional I+D+i
