Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Instituto de investigación
University of North Carolina at Chapel Hill
Chapel Hill, Estados UnidosPublicaciones en colaboración con investigadores/as de University of North Carolina at Chapel Hill (2)
2006
-
Ge-modified Si(100) substrates for the growth of 3C-SiC (100)
Applied Physics Letters, Vol. 88, Núm. 21
2005
-
Raman studies of Ge-promoted stress modulation in 3C-SiC grown on Si(111)
Applied Physics Letters, Vol. 87, Núm. 4