Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Institut d'investigació
Cornell University
Ithaca, Estados UnidosPublicacions en col·laboració amb investigadors/es de Cornell University (3)
2016
-
Orientationally Ordered Silicon Nanocrystal Cuboctahedra in Superlattices
Nano Letters, Vol. 16, Núm. 12, pp. 7814-7821
2012
-
Defect evolution and interplay in n-type InN
Applied Physics Letters, Vol. 100, Núm. 9
2006
-
Scanning transmission electron tomography
Microscopy and Microanalysis