Defect evolution and interplay in n-type InN

  1. Rauch, C.
  2. Tuomisto, F.
  3. Vilalta-Clemente, A.
  4. Lacroix, B.
  5. Ruterana, P.
  6. Kraeusel, S.
  7. Hourahine, B.
  8. Schaff, W.J.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2012

Volumen: 100

Número: 9

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.3688038 GOOGLE SCHOLAR