Comparison between discrete STFT and wavelets for the analysis of power quality events
- Jurado, F.
- Saenz, J.R.
ISSN: 0378-7796
Any de publicació: 2002
Volum: 62
Número: 3
Pàgines: 183-190
Tipus: Article
ISSN: 0378-7796
Any de publicació: 2002
Volum: 62
Número: 3
Pàgines: 183-190
Tipus: Article