Comparison between discrete STFT and wavelets for the analysis of power quality events
- Jurado, F.
- Saenz, J.R.
ISSN: 0378-7796
Ano de publicación: 2002
Volume: 62
Número: 3
Páxinas: 183-190
Tipo: Artigo
ISSN: 0378-7796
Ano de publicación: 2002
Volume: 62
Número: 3
Páxinas: 183-190
Tipo: Artigo