Comparison between discrete STFT and wavelets for the analysis of power quality events
- Jurado, F.
- Saenz, J.R.
ISSN: 0378-7796
Argitalpen urtea: 2002
Alea: 62
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 183-190
Mota: Artikulua
ISSN: 0378-7796
Argitalpen urtea: 2002
Alea: 62
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 183-190
Mota: Artikulua