Modelo óptico y térmico de acristalamientos complejos
- José Luís Molina Félix Director/a
Universidad de defensa: Universidad de Sevilla
Año de defensa: 2000
- Ramón Velázquez Vila Presidente/a
- Juan Manuel Amaya Recio Secretario/a
- Servando Alvarez Domínguez Vocal
- Francisco Javier Rey Martínez Vocal
- José Manuel Pinazo Ojer Vocal
Tipo: Tesis
Resumen
En ciertos acristalamientos se depositan pequeñas capas de material conductivo (oro o plata) o dieléctrico (dióxidos o sulfuros), el orden de decenas de nanometros, para modificar sus propiedades ópticas. En este trabajos e desarrolla una metodología para la obtención de las constantes ótpicas espectrales (índice de refracción y coeficiente de extinción) de estas películas delgadas, así como de su espesor, mediante la utilización de las propeidades espectrales a incidencia normal (transmisividad y reflectividades). En este proceso de caracterización permitirá obtener éstas propiedades para diferentes ángulos de incidencia. Con este fin, se presentan los procesos de caracterización de vidrios monolíticos y de dispositivos de sombras.