Modelo óptico y térmico de acristalamientos complejos

  1. Rodríguez Maestre, Ismael
Supervised by:
  1. José Luís Molina Félix Director

Defence university: Universidad de Sevilla

Year of defence: 2000

Committee:
  1. Ramón Velázquez Vila Chair
  2. Juan Manuel Amaya Recio Secretary
  3. Servando Alvarez Domínguez Committee member
  4. Francisco Javier Rey Martínez Committee member
  5. José Manuel Pinazo Ojer Committee member

Type: Thesis

Teseo: 83098 DIALNET lock_openIdus editor

Abstract

En ciertos acristalamientos se depositan pequeñas capas de material conductivo (oro o plata) o dieléctrico (dióxidos o sulfuros), el orden de decenas de nanometros, para modificar sus propiedades ópticas. En este trabajos e desarrolla una metodología para la obtención de las constantes ótpicas espectrales (índice de refracción y coeficiente de extinción) de estas películas delgadas, así como de su espesor, mediante la utilización de las propeidades espectrales a incidencia normal (transmisividad y reflectividades). En este proceso de caracterización permitirá obtener éstas propiedades para diferentes ángulos de incidencia. Con este fin, se presentan los procesos de caracterización de vidrios monolíticos y de dispositivos de sombras.