An ellipsometric analysis to model the order-disorder transition in Au-SiO2 nano-granular thin films induced by thermal annealing

  1. Bakkali, H.
  2. Blanco, E.
  3. Amrani, M.
  4. Brigui, J.
  5. Domínguez, M.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Año de publicación: 2018

Volumen: 660

Páginas: 455-462

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.TSF.2018.06.045 GOOGLE SCHOLAR
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