Influence of the crosstalk on the intensity of HAADF-STEM images of quaternary semiconductor materials

  1. Baladés, N.
  2. Herrera, M.
  3. Sales, D.L.
  4. Guerrero, M.P.
  5. Guerrero, E.
  6. Galindo, P.L.
  7. Molina, S.I.
Aldizkaria:
Journal of Microscopy

ISSN: 1365-2818,  0022-2720

Argitalpen urtea: 2019

Alea: 273

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 81-88

Mota: Artikulua

DOI: 10.1111/JMI.12763 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor
Datuen iturria: Scopus