Neural networks applied to the determination of thickness and defocus from high resolution transmission electron microscopy images

  1. Galindo, P.L.
  2. Ponce, A.
  3. Molina, S.I.
Llibre:
Microscopy of Semiconducting Materials 2003

ISBN: 9781315895536

Any de publicació: 2018

Pàgines: 23-26

Tipus: Capítol de llibre

DOI: 10.1201/9781351074636 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus