Optimisation of the envelope method for characterisation of optical thin film on substrate specimens from their normal incidence transmittance spectrum
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- Angelov, G.V.
- Moreno, J.M.D.
- Vazquez, C.G.
- Ruano, S.M.F.
- Marquez, E.
Revista:
Thin Solid Films
ISSN: 0040-6090
Año de publicación: 2018
Volumen: 645
Páginas: 370-378
Tipo: Artículo