Direct Measurement of Polarization-Induced Fields in GaN/AlN by Nano-Beam Electron Diffraction

  1. Carvalho, D.
  2. Müller-Caspary, K.
  3. Schowalter, M.
  4. Grieb, T.
  5. Mehrtens, T.
  6. Rosenauer, A.
  7. Ben, T.
  8. García, R.
  9. Redondo-Cubero, A.
  10. Lorenz, K.
  11. Daudin, B.
  12. Morales, F.M.
Revista:
Scientific Reports

ISSN: 2045-2322

Año de publicación: 2016

Volumen: 6

Tipo: Artículo

DOI: 10.1038/SREP28459 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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