Electro-optical characterisation for the control of silicon nanocrystals embedded in SiNx:H films
- Lelièvre, J.-F.
- Rodriguez, H.
- Fourmond, E.
- Quoizola, S.
- Lipinski, M.
- Araujo, D.
- Bremond, G.
- Lemiti, M.
ISSN: 1862-6351
Año de publicación: 2007
Volumen: 4
Número: 4
Páginas: 1554-1559
Tipo: Aportación congreso