Defect morphology and strain of CVD grown 3C-SiC layers: Effect of the carbonization process
- Méndez, D.
- Aouni, A.
- Morales, F.M.
- Pacheco, F.J.
- Araújo, D.
- Bustarret, E.
- Ferro, G.
- Monteil, Y.
ISSN: 1862-6300, 1862-6319
Ano de publicación: 2005
Volume: 202
Número: 4
Páxinas: 561-565
Tipo: Achega congreso