Size and critical thickness evolution during growth of stacked layers of InAs/InP(001) quantum wires studied by in situ stress measurements

  1. Fuster, D.
  2. González, M.U.
  3. González, L.
  4. González, Y.
  5. Ben, T.
  6. Ponce, A.
  7. Molina, S.I.
Konferenzberichte:
Materials Research Society Symposium - Proceedings

ISSN: 0272-9172

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 794

Seiten: 119-124

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1557/PROC-794-T5.3 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus