A single slice approach for simulating two-beam electron diffraction of nanocrystals

  1. Gontard, L.C.
  2. Barroso-Bogeat, A.
  3. Dunin-Borkowski, R.E.
  4. Calvino, J.J.
Zeitschrift:
Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723,  0304-3991

Datum der Publikation: 2018

Ausgabe: 195

Seiten: 171-188

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2018.09.004 GOOGLE SCHOLAR
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