A single slice approach for simulating two-beam electron diffraction of nanocrystals

  1. Gontard, L.C.
  2. Barroso-Bogeat, A.
  3. Dunin-Borkowski, R.E.
  4. Calvino, J.J.
Aldizkaria:
Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723,  0304-3991

Argitalpen urtea: 2018

Alea: 195

Orrialdeak: 171-188

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2018.09.004 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus